Sökning: onr:99803 > Semiconductor measu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology Thermal resistance measurements / Frank F. Oettinger and David L. Blackburn.
- Oettinger, Frank F. (medarbetare)
- Blackburn, David L. (medarbetare)
- Publicerad: Washington, 1990
- Engelska v, 72 s.
- Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:86
- Bok
Ämnesord
Hjälp
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Klassifikation
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Inga andra utgåvor av "Semiconductor measurement technology Thermal resistance measurements" hittades
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Sök vidare
Hjälp
- Fler titlar av
- Oettinger, Frank F.
- Blackburn, David L.
- Fler titlar om
- Halvledare: elektrot ...
- Serie
- Fler delar
- Del av
- Semiconductor measur ...
- Fler delar
Sök utanför LIBRIS
Hjälp
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
- LibraryThing
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
