Sökning: onr:99803 >
Semiconductor measu...
Semiconductor measurement technology Thermal resistance measurements / Frank F. Oettinger and David L. Blackburn.
-
Oettinger, Frank F. (medarbetare)
-
Blackburn, David L. (medarbetare)
- Publicerad: Washington, 1990
- Engelska v, 72 s.
-
Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:86
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Klassifikation
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Hjälp
Inga andra utgåvor av "Semiconductor measurement technology Thermal resistance measurements" hittades
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem