Sökning: onr:99782 > Semiconductor measu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology. Accurate linewidth measurements on integrated-circuits photomasks / John M. Jerke
- Jerke, John M. (redaktör/utgivare)
- Washington, 1980
- Engelska 154 s.
- Bok
Ämnesord
Inställningar
Hjälp
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Klassifikation
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
Titeln finns på 1 bibliotek.
Bibliotek i södra Sverige (1)
Ange som favorit- Lunds universitets bibliotek, Universitetsbiblioteket, UB (L)Ange som favorit
- Titeln i bibliotekets lokala katalog
-
- Placering: pP 3521:400
- Placering: pP 3521:, 400:43
- Bestånd: 1974-
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Sök vidare
Hjälp
- Fler titlar av
- Jerke, John M.
- Fler titlar om
- Halvledare: elektrot ...
- Del av
- Semiconductor measur ...
- Fler delar
Sök utanför LIBRIS
Hjälp
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
- LibraryThing
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
