Semiconductor measurement technology Improved characterization and evaluation measurements for HgCdTe detector materials, processes, and devices used on the GOES and TIROS satellites / David G. Seiler ..
-
Seiler, David G. (medarbetare)
- Publicerad: Washington, 1994
- Engelska vii, 122, [54] s.
-
Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:94
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Klassifikation
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Inställningar
Hjälp
Titeln finns på 1 bibliotek.
Ange som favorit
-
Lunds universitets bibliotek, Universitetsbiblioteket, UB (L)Ange som favorit
-
Titeln i bibliotekets lokala katalog
-
-
Placering: pP 3521:400
-
Placering: 0200 pP 3521:400:94
-
Bestånd: 1974-
Utlånad?Öppettider, adress m.m.