Sökning: onr:99823 > Semiconductor measu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology Thin film reference materials development / Barbara J. Belzer ..
- Belzer, Barbara J. (medarbetare)
- Publicerad: Washington, 1998
- Engelska 38 s.
- Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:100
- Bok
Uppgift om bibliotek saknas i LIBRIS
Kontakta ditt bibliotek, eller sök utanför LIBRIS. Se högermenyn.
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Sök vidare
Hjälp
- Fler titlar av
- Belzer, Barbara J.
- Serie
- Fler delar
- Del av
- Semiconductor measur ...
- Fler delar
Sök utanför LIBRIS
Hjälp
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
- LibraryThing
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
