På den här sidan
'/%3e%3c/svg%3e)
Ej skönlitteratur, Text · Engelska
Semiconductor measurement technology · Measurement of transistor scattering parameters
George J. Rogers (Medarbetare (Ospecificerad))
utgivning
Washington, 197548 s.
George J. Rogers and David E. Sawyer, Ramon L. Jesch
Bok
Tillgänglighet utifrån medietyp
Detaljer
Medverkan och funktion
George J. Rogers (Medarbetare (Ospecificerad))klassifikation
53.08(021) (UDK-klassifikation), 621.315.592(021) (UDK-klassifikation)har titel
Semiconductor measurement technology · Measurement of transistor scattering parametersupphovsuppgift
George J. Rogers and David E. Sawyer, Ramon L. Jeschutgivning
Washington, 1975omfång
48 s.Identifikator
LIBRISIII-nummer 9912524535kontrollnummer
99806 Biblioteksspecifik information (bestånd)
Lunds universitets bibliotek · Universitetsbiblioteket, UB (L)
ämneHalvledare: elektroteknik, Mätteknikklassifikation53.08(021) (UDK-klassifikation), 621.315.592(021) (UDK-klassifikation)
Resursens ID / Permalänk: https://libris.kb.se/j1tdmjqv0d5qw0x#it
Ladda ner metadata: JSON-LD · Turtle · RDF/XML · MARC21 (ISO 2709) · MARC21 (XML)