Identification of epitaxial graphene domains and adsorbed species in ambient conditions using quantified topography measurements [Elektronisk resurs]
-
Burnett, Tim L (författare)
-
Yakimova, Rositsa (författare)
-
Kazakova, Olga (författare)
-
- Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
-
-
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik
(tidigare namn)
-
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi
(tidigare namn)
-
Alternativt namn: IFM
-
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
-
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
-
- Linköpings universitet Tekniska högskolan (utgivare)
-
-
Alternativt namn: Linköpings universitet. Tekniska fakulteten
-
Alternativt namn: Linköpings tekniska högskola
-
Alternativt namn: Tekniska högskolan vid Linköpings universtiet
-
Alternativt namn: LiTH
-
Alternativt namn: Linköping University. Institute of Technology
-
Se även: Universitet i Linköping Tekniska högskolan
- American Institute of Physics (AIP) 2012
- Engelska.
-
Ingår i: Journal of Applied Physics. - 0021-8979. ; 112:5, 054308
-
Läs hela texten
-
Läs hela texten
-
Läs hela texten
Sammanfattning
Ämnesord
Stäng
- We discuss general limitations of topographical studies of epitaxial graphene in ambient conditions, in particular, when an accurate determination of the layers thickness is required. We demonstrate that the histogram method is the most accurate for measurements of small vertical distances (andlt;0.5 nm) and generally should be applied to epitaxial graphene and similar types of samples in order to get the correct and reproducible values. Experimental determination of the step height between different domains of epitaxial graphene shows excellent agreement with the predicted values once the adsorption of a 2D monolayer is taken into account on top of the one layer graphene. In contrast to general limitations of AFM topography, electrostatic force microscopy imaging allows a straightforward identification of domains of epitaxial graphene of different thickness.
Ämnesord
- Engineering and Technology (hsv)
- Teknik och teknologier (hsv)
- TECHNOLOGY (svep)
- TEKNIKVETENSKAP (svep)
Inställningar
Hjälp
Beståndsinformation saknas