Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99822 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology Survey of optical characterization methods for materials, processing and manufacturing in the semiconductor industry / W. Murray Bullis, S. Perkowitz, D.G. Seiler.

Bullis, W. Murray (medarbetare)
Perkowitz, S. (medarbetare)
Seiler, D. G. (medarbetare)
Publicerad: Washington, 1995
Engelska 51 s.
Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:98
  • Bok
Ämnesord
Stäng  

Klassifikation

537.622 028 7 (DDC)
Uccd (kssb/8 (machine generated))
Inställningar Hjälp

Uppgift om bibliotek saknas i LIBRIS

Kontakta ditt bibliotek, eller sök utanför LIBRIS. Se högermenyn.

Om LIBRIS
Sekretess
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Uppsök

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy