På den här sidan
Ej skönlitteratur, Text · Engelska
Semiconductor measurement technology · TXYZ: a program for semiconductor IC thermal analysis
utgivning
Washington, 1984iv, 61 s.
John Albers
Bok
Tillgänglighet utifrån medietyp
Detaljer
klassifikation
53.08(021) (UDK-klassifikation), 621.315.592(021) (UDK-klassifikation)har titel
Semiconductor measurement technology · TXYZ: a program for semiconductor IC thermal analysisupphovsuppgift
John Albersutgivning
Washington, 1984omfång
iv, 61 s.Identifikator
LIBRISIII-nummer 9904668035kontrollnummer
99797 Biblioteksspecifik information (bestånd)
Lunds universitets bibliotek · Universitetsbiblioteket, UB (L)
ämneHalvledare: elektroteknik, Mätteknikklassifikation53.08(021) (UDK-klassifikation), 621.315.592(021) (UDK-klassifikation)
ID / Permalänk: https://libris.kb.se/7qj3b7fk49wz84b#it
Ladda ner metadata: JSON-LD · Turtle · RDF/XML · MARC21 (ISO 2709) · MARC21 (XML)
Visa metadata i Libris katalogisering · Visa metadata i gamla Libris