På den här sidan
'/%3e%3c/svg%3e)
Ej skönlitteratur, Text · Engelska
Semiconductor measurement technology · 13 · Improved infrared response technique for detecting defects and impurities in germanium and silicon p-i-n diodes
A. H. Sher (Medarbetare (Ospecificerad))
utgivning
Washington, 197520 s.
A.H. Sher
Bok
Tillgänglighet utifrån medietyp
Detaljer
Medverkan och funktion
A. H. Sher (Medarbetare (Ospecificerad))klassifikation
53.08(021) (UDK-klassifikation), 621.315.592(021) (UDK-klassifikation)har titel
Semiconductor measurement technology · 13 · Improved infrared response technique for detecting defects and impurities in germanium and silicon p-i-n diodesupphovsuppgift
A.H. Sherutgivning
Washington, 1975omfång
20 s.Identifikator
LIBRISIII-nummer 990306814Xkontrollnummer
99790 Biblioteksspecifik information (bestånd)
Lunds universitets bibliotek · Universitetsbiblioteket, UB (L)
ämneHalvledare: elektroteknik, Mätteknikklassifikation53.08(021) (UDK-klassifikation), 621.315.592(021) (UDK-klassifikation)
Resursens ID / Permalänk: https://libris.kb.se/0h9v306b0rp5dd9#it
Ladda ner metadata: JSON-LD · Turtle · RDF/XML · MARC21 (ISO 2709) · MARC21 (XML)