Sökning: onr:22109044 >
Y x Al 1-x N Thin F...
Y x Al 1-x N Thin Films [Elektronisk resurs]
Žukauskaitė, Agnė (författare)
Tholander, Christopher (författare)
Pališaitis, Justinas (författare)
Persson, Per O. Å. (författare)
Darakchieva, Vanya (författare)
Ben Sedrine, Nebiha (författare)
Tasnádi, Ferenc (författare)
Alling, Björn (författare)
Birch, Jens (författare)
Hultman, Lars (författare)
Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik
(tidigare namn)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi
(tidigare namn)
Alternativt namn: IFM
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
Linköpings universitet Tekniska högskolan (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Tekniska fakulteten
Alternativt namn: Linköpings tekniska högskola
Alternativt namn: Tekniska högskolan vid Linköpings universtiet
Alternativt namn: LiTH
Alternativt namn: Linköping University. Institute of Technology
Se även: Universitet i Linköping Tekniska högskolan
Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik
(tidigare namn)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi
(tidigare namn)
Alternativt namn: IFM
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik
(tidigare namn)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi
(tidigare namn)
Alternativt namn: IFM
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
Institute of Physics Publishing (IOPP) 2012
Engelska.
Ingår i: Journal of Physics D. - 0022-3727. ; 45:42, 422001
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
Sammanfattning
Ämnesord
Stäng
Reactive magnetron sputtering was used to deposit YxAl1-xN thin films, 0≤x≤0.22, onto Al2O3(0001) and Si(100) substrates. X-ray diffraction and analytical electron microscopy show that the films are solid solutions. Lattice constants are increasing with Y concentration, in agreement with ab initio calculations. Spectroscopic ellipsometry measurements reveal a band gap decrease from 6.2 eV (x=0) down to 4.9 eV (x=0.22). Theoretical investigations within the special quasirandom structure approach show that the wurtzite structure has the lowest mixingenthalpy for 0≤x≤0.75.
Ämnesord
Natural Sciences (hsv)
Naturvetenskap (hsv)
Hjälp
Inga andra utgåvor av "Y x Al 1-x N Thin Films" hittades
Hjälp
Fler titlar av
Žukauskaitė, Agnė
Tholander, Christoph ...
Pališaitis, Justina ...
Persson, Per O. Å.
Darakchieva, Vanya
Ben Sedrine, Nebiha
visa fler...
Tasnádi, Ferenc
Alling, Björn
Birch, Jens
Hultman, Lars
Linköpings universit ...
Linköpings universit ...
visa färre...
Fler titlar om
Natural Sciences
Naturvetenskap
Värdpublikation
Journal of Physics D
Fler artiklar
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här .
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem