Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings, Washington 1963 : symposium held September 5-6, 1963, at the National bureau of standards, Washington, D.C. ed. by E. Passaglia ..
-
Passaglia, E. (redaktör/utgivare)
- Publicerad: Washington : [United States department of commerce. National bureau of standards], 1964
- Engelska 359 s.
-
Serie: Miscellaneous publications / National Bureau of Standards, 0096-963X ; 256
Ämnesord
Stäng
Ämnesord
- Ytteknik (sao)
- Fysik (sao)
- Surfaces (Technology) (LCSH)
- Physics (LCSH)
Indexterm och SAB-rubrik
- Uccgc Ytor, gränsytor, tunna skikt
- Ucd.02 Molekylfysik, atomfysik, kärnfysik och partikelfysik: instrumentlära och mätteknik
- Uccb Optik
Klassifikation
- 535.24(061.3) (UDK)
- 535.51(061.3) (UDK)
- 530.417 (DDC)
- 539 (DDC)
- 535 (DDC)
- Uccgc(k) (kssb/6)
- Ucd.02(k) (kssb/6)
- Uccb(k) (kssb/6)
Inställningar
Hjälp
Titeln finns på 3 bibliotek.
Ange som favoritAnge som favorit
-
Chalmers tekniska högskola, Chalmers bibliotek, depå (Zipa)Ange som favorit
-
Bibliotekets lokala katalog
-
-
Placering: Tp Publication. National bureau of standards. Miscellaneous publication. 256
Utlånad?Öppettider, adress m.m.
Ange som favorit
-
Lunds universitets bibliotek, Universitetsbiblioteket, UB (L)Ange som favorit
-
Titeln i bibliotekets lokala katalog
-
-
Placering: 0200 UCC 69/154
Utlånad?Öppettider, adress m.m.