Sökning: onr:99801 > Semiconductor measu...
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Semiconductor measurement technology Automatic determination of the interstitial oxygen content of silicon wafers polished on both sides / Warren K. Gladden ..
- Gladden, Warren K. (medarbetare)
- Publicerad: Washington, 1988
- Engelska 66 s.
- Bok
Ämnesord
Inställningar
Hjälp
Stäng
Ämnesord
- Halvledare: elektroteknik
Klassifikation
- 621.315.592(021) (UDK)
- 53.08(021) (UDK)
- 537.622 028 7 (DDC)
- Uccd (kssb/8 (machine generated))
Titeln finns på 1 bibliotek.
Bibliotek i södra Sverige (1)
Ange som favorit- Lunds universitets bibliotek, Universitetsbiblioteket, UB (L)Ange som favorit
- Titeln i bibliotekets lokala katalog
-
- Placering: pP 3521:400
- Placering: 0200 pP 3521:400:81
- Bestånd: 1974-
- 1 av 1
- Föregående post
- Nästa post
- Till träfflistan
Sök vidare
Hjälp
- Fler titlar av
- Gladden, Warren K.
- Fler titlar om
- Halvledare: elektrot ...
- Del av
- Semiconductor measur ...
- Fler delar
Sök utanför LIBRIS
Hjälp
- Sök vidare i:
- Google Book Search
- Google Scholar
- LibraryThing
Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.
Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem
