Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99819 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology User's manual for the program MONSEL-1 : Monte Carlo simulation of SEM signals for linewidth metrology /Jeremiah R. Lowney and Egon Marx.

  • BokEngelska1994

Förlag, utgivningsår, omfång ...

  • Publicerad:Washington,Publicerad:1994
  • iv, 39 s.ill., diagr., tab.

Nummerbeteckningar

  • LIBRIS-ID:99819

Kompletterande språkuppgifter

  • Språk:engelska

Klassifikation

Serie

  • NIST special publication,99-0824194-X ;400:9540095

Ämnesord och genrebeteckningar

Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)

  • Lowney, Jeremiah R. (medarbetare)
  • Marx, Egon (medarbetare)
  • User's manual for the program MONSEL-1

Sammanhörande titlar

  • Del av/supplement till:Semiconductor measurement technologyWashington, 1974-National Bureau of Standards special publication ; 400:1-

Seriebiuppslag

  • NIST special publication,99-0824194-X ;400:9540095

Bibliotekens lokala klassifikation, anmärkningar och ämnesord

  • L621.315.592(021)
  • L53.08(021)
  • LHalvledare: elektroteknik
  • LMätteknik
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 1 bibliotek. 

Bibliotek i södra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Uppsök

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy