-
IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference
IEEE instrumentation and measurement technology conference 1985March 20-22, 1985, Tampa, Fla.
Förlag, utgivningsår, omfång ...
-
Publicerad:New York :Publicerad:IEEE,Publicerad:Cop. 1985
-
285 s.diagr.
Nummerbeteckningar
Kompletterande språkuppgifter
Klassifikation
Varianttitlar
-
Instrumentation and Measurement Conference
Ämnesord och genrebeteckningar
Biuppslag (personer, institutioner, konferenser, titlar ...)
-
March 20-22, 1985, Tampa, Fla.
-
Instrumentation and measurement technology
Sammanhörande titlar
-
Del av/supplement till:IEEE Instrumentation and Measurement Technology ConferenceIEEE instrumentation and measurement technology conferenceNew York : IEEE, 1984-
Bibliotekens lokala klassifikation, anmärkningar och ämnesord
-
T530.705
-
T620.004 405
-
TMätteknik (Årliga publikationer)
-
TMeasurements (Engineering) (Annuals)
-
TInstrumentering (Fysik) (Årliga publikationer)
-
TInstrumentation (Physics) (Annuals)
-
TKonferenspublikationer
-
TConference proceedings
-
ZTK 301
-
ZTK 7878
Inställningar
Hjälp
Titeln finns på 2 bibliotek.
Ange som favorit
-
Kungliga Tekniska högskolan, KTH Biblioteket, Huvudbiblioteket (T)Ange som favorit
-
Bibliotekets lokala katalogTillgänglighet för KTH Biblioteket
-
-
Placering: 2e Ö12783 IEEE Instrumentation and Measurement Technology. Proceedings, Avb 99 (Monografi-och rapportserier, Fysik)
-
Placering: 2e Ö12783 IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference. Proceedings. 1985 (Monografi-och rapportserier, Fysik)
-
Bestånd: 1984-1998
-
Bestånd: 1999- IEL Online
Utlånad?Öppettider, adress m.m.
Ange som favorit