Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99822 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology. Survey of optical characterization methods for materials, processing and manufacturing in the semiconductor industry / W. Murray Bullis, S. Perkowitz, D.G. Seiler

Bullis, W. Murray (medarbetare)
Perkowitz, S. (medarbetare)
Seiler, D. G. (medarbetare)
Washington, 1995
Engelska 51 s.
Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:98
  • Bok
Ämnesord
Stäng  

Klassifikation

537.622 028 7621.381 520 287 (DDC)
Uccd (kssb/8 (machine generated))
Pci (kssb/8 (machine generated))
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 1 bibliotek. 

Bibliotek i Stockholmsregionen (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy