Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99815 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology. Design and testing guides for the CMOS and lateral bipolar-on-SOI test library / Janet C. Marshall and Mona E. Zaghloul

Zaghloul, Mona E. (medarbetare)
Marshall, Janet C. (medarbetare)
Washington : U.S. Dept. of Commerce, 1994
Engelska vi, 132 s.
Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:93
  • Bok
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

Halvledare: elektroteknik 

Klassifikation

621.315.592(021) (UDK)
53.08(021) (UDK)
537.622 028 7621.381 520 287 (DDC)
P (kssb)
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 2 bibliotek. 

Bibliotek i Stockholmsregionen (1)

Ange som favorit

Bibliotek i södra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy