Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99811 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology. Version 2.0 of the TXYZ thermal analysis program: TXYZ20 / John Albers

Albers, John (medarbetare)
Washington, 1992
Engelska 29 s.
Serie: NIST special publication, 99-0824194-X ; 400:89
  • Bok
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

Halvledare: elektroteknik 

Klassifikation

621.315.592(021) (UDK)
53.08(021) (UDK)
537.622 028 7621.381 520 287 (DDC)
Uccd (kssb/8 (machine generated))
Pci (kssb/8 (machine generated))
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 2 bibliotek. 

Bibliotek i Stockholmsregionen (1)

Ange som favorit

Bibliotek i södra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy