Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99806 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology. Measurement of transistor scattering parameters / George J. Rogers and David E. Sawyer, Ramon L. Jesch

Rogers, George J. (medarbetare)
Washington, 1975
Engelska 48 s.
  • Bok
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

Halvledare: elektroteknik 

Klassifikation

621.315.592(021) (UDK)
53.08(021) (UDK)
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 1 bibliotek. 

Bibliotek i södra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy