Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99802 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology. Database for and statistical analysis of the interlaboratory determination of the conversion coefficient for the measurement of the interstitial oxygen content of silicon by infrared absorption / Aslan Baghdadi, Robert I. Space, and E. Jane Walters, editors

Baghdadi, Aslan (medarbetare)
Scace, Robert I. (medarbetare)
Walters, E. Jane (medarbetare)
Washington, 1989
Engelska 168 s.
  • Bok
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

Halvledare: elektroteknik 

Klassifikation

621.315.592(021) (UDK)
53.08(021) (UDK)
537.622 028 7621.381 520 287 (DDC)
Uccd (kssb/8 (machine generated))
Pci (kssb/8 (machine generated))
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 2 bibliotek. 

Bibliotek i Stockholmsregionen (1)

Ange som favorit

Bibliotek i södra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy