Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:99785 > Semiconductor measu...

Semiconductor measurement technology. ARPA/NBS workshop IV [Gaithersburg, 1975] : surface analysis for silicon devices / A. George Lieberman [ed.]

Lieberman, A. George (redaktör/utgivare)
Washington, 1976
Engelska 239 s.
  • BokKonferens
Ämnesord
Stäng  

Klassifikation

537.622 028 7621.381 520 287 (DDC)
QC 611
TK 6650
Uccd (kssb/8 (machine generated))
Pci (kssb/8 (machine generated))
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 2 bibliotek. 

Bibliotek i Stockholmsregionen (1)

Ange som favorit

Bibliotek i västra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy