Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:335879 > Characterization of...

Characterization of some technically important defects in semiconductors / Erik Meijer

Meijer, Erik, 1951- (författare)
Lund, 1982
Engelska [2], 9 s.
  • BokAvhandling(Diss. (sammanfattning) Lund : Univ.)
Ämnesord
Stäng  

Ämnesord

Halvledarkomponenter 

Indexterm och SAB-rubrik

Uccd Fysik Elektricitet Magnetism

Klassifikation

538:621.382 (UDK)
621.381 52 (DDC)
Uc (kssb)
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 6 bibliotek. 

Bibliotek i norra Sverige (1)

Ange som favorit

Bibliotek i Mellansverige (1)

Ange som favorit

Bibliotek i Stockholmsregionen (2)

Ange som favorit

Bibliotek i södra Sverige (2)

Ange som favorit

Sök utanför LIBRIS

Hjälp
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy