Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:22143133 > Electronic structur...

Electronic structure investigation of Ti 3 AlC 2 , Ti 3 SiC 2 , and Ti 3 GeC 2 by soft x-ray emission spectroscopy [Elektronisk resurs]

Magnuson, Martin (författare)
Palmquist, Jens-Petter (författare)
Mattesini, M. (författare)
Li, Sa (författare)
Ahuja, Rajeev (författare)
Eriksson, Olle (författare)
Emmerlich, Jens (författare)
Wilhelmsson, Ola (författare)
Eklund, Per (författare)
Högberg, Hans (författare)
Hultman, Lars (författare)
Jansson, Ulf (författare)
Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik (tidigare namn)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi (tidigare namn)
Alternativt namn: IFM
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
Linköpings universitet Tekniska högskolan (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Tekniska fakulteten
Alternativt namn: Linköpings tekniska högskola
Alternativt namn: Tekniska högskolan vid Linköpings universtiet
Alternativt namn: LiTH
Alternativt namn: Linköping University. Institute of Technology
Se även: Universitet i Linköping Tekniska högskolan
2005
Engelska.
Ingår i: Physical Review B. Condensed Matter and Materials Physics. - 1098-0121. ; 72:24
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
  • E-artikel/E-kapitel
Sammanfattning Ämnesord
Stäng  
  • The electronic structures of epitaxially grown films of Ti 3 AlC 2 , Ti 3 SiC 2 , and Ti 3 GeC 2 have been investigated by bulk-sensitive soft x-ray emission spectroscopy. The measured high-resolution Ti L , C K , Al L , Si L , and Ge M emission spectra are compared with ab initio density-functional theory including core-to-valence dipole matrix elements. A qualitative agreement between experiment and theory is obtained. A weak covalent Ti-Al bond is manifested by a pronounced shoulder in the Ti L emission of Ti 3 AlC 2 . As Al is replaced with Si or Ge, the shoulder disappears. For the buried Al and Si layers, strongly hybridized spectral shapes are detected in Ti 3 AlC 2 and Ti 3 SiC 2 , respectively. As a result of relaxation of the crystal structure and the increased charge-transfer from Ti to C, the Ti-C bonding is strengthened. The differences between the electronic structures are discussed in relation to the bonding in the nanolaminates and the corresponding change of materials properties. 

Ämnesord

Natural Sciences  (hsv)
Naturvetenskap  (hsv)
NATURAL SCIENCES  (svep)
NATURVETENSKAP  (svep)
Hjälp

Inga andra utgåvor av "Electronic structure investigation of Ti 3 AlC 2 , Ti 3 SiC 2 , and Ti 3 GeC 2 by soft x-ray emission spectroscopy" hittades

Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy