Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:22097169 > High-temperature st...

High-temperature stability of alpha-Ta(4)AlC(3) [Elektronisk resurs]

Lane, Nina J. (författare)
Eklund, Per (författare)
Lu, Jun (författare)
Spencer, Charles B. (författare)
Hultman, Lars (författare)
Barsoum, Michel W. (författare)
Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik (tidigare namn)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi (tidigare namn)
Alternativt namn: IFM
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
Linköpings universitet Tekniska högskolan (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Tekniska fakulteten
Alternativt namn: Linköpings tekniska högskola
Alternativt namn: Tekniska högskolan vid Linköpings universtiet
Alternativt namn: LiTH
Alternativt namn: Linköping University. Institute of Technology
Se även: Universitet i Linköping Tekniska högskolan
Elsevier Science B.V., Amsterdam. 2011
Engelska.
Ingår i: Materials research bulletin. - 0025-5408. ; 46:7, 1088-1091
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
  • E-artikel/E-kapitel
Sammanfattning Ämnesord
Stäng  
  • Cold-pressed alpha-Ta(4)AlC(3) powders were annealed up to 1750 degrees C to test first-principles predictions of alpha-beta phase-stability reversal at 1600 degrees C. Up to 1600 degrees C, the alpha-Ta(4)AlC(3) samples were stable with no indications of any alpha-beta transformation, as shown by the strong characteristic X-ray diffraction peaks of alpha-Ta(4)AlC(3) and the zigzag stacking observed by transmission electron microscopy. These results show that, in this experimental situation, high temperature alone is not sufficient to cause the alpha-beta transformation. 

Ämnesord

Engineering and Technology  (hsv)
Teknik och teknologier  (hsv)
TECHNOLOGY  (svep)
TEKNIKVETENSKAP  (svep)

Indexterm och SAB-rubrik

X-ray diffraction (XRD); Transmission electron microscopy (TEM); Polymorphic
Inställningar Hjälp

Beståndsinformation saknas

Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy