Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:22070137 > Growth and properti...

Growth and properties of amorphous Ti-B-Si-N thin films deposited by hybrid HIPIMS/DC-magnetron co-sputtering from TiB 2 and Si targets [Elektronisk resurs]

Fager, Hanna (författare)
Greczynski, Grzegorz (författare)
Jensen, Jens (författare)
Lu, Jun (författare)
Hultman, Lars (författare)
Linköpings universitet Institutionen för fysik, kemi och biologi (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik (tidigare namn)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Institutionen för fysik och mätteknik, biologi och kemi (tidigare namn)
Alternativt namn: IFM
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics and Measurement Technology, Biology and Chemistry
Alternativt namn: Engelska : Department of Physics, Chemistry and Biology
Linköpings universitet Tekniska högskolan (utgivare)
Alternativt namn: Linköpings universitet. Tekniska fakulteten
Alternativt namn: Linköpings tekniska högskola
Alternativt namn: Tekniska högskolan vid Linköpings universtiet
Alternativt namn: LiTH
Alternativt namn: Linköping University. Institute of Technology
Se även: Universitet i Linköping Tekniska högskolan
Elsevier 2014
Engelska.
Ingår i: Surface & Coatings Technology. - 0257-8972. ; 259, 442-447
Läs hela texten
Läs hela texten
Läs hela texten
  • E-artikel/E-kapitel
Sammanfattning Ämnesord
Stäng  
  • Amorphous nitrides are explored for their homogenous structure and potential use as wear-resistant coatings, beyond their much studied nano-and microcrystalline counterparts. (TiB 2 ) 1−x Si x N y thin films were deposited on Si(001) substrates by a hybrid technique of high power impulse magnetron sputtering (HIPIMS) combined with dc magnetron sputtering (DCMS) using TiB 2 and Si targets in a N 2 /Ar atmosphere. By varying the sputtering dc power to the Si target from 200 to 2000 W while keeping the average power to the TiB 2 -target, operated in HIPIMS mode, constant at 4000 W, the Si content in the films increased gradually from x=0.01 to x=0.43. The influence of the Si content on the microstructure, phase constituents, and mechanical properties were systematically investigated. The results show that the microstructure of as-deposited (TiB 2 ) 1−x Si x N y films changes from nanocrystalline with 2-4 nm TiN grains for x=0.01 to fully electron diffraction amorphous for x=0.22. With increasing Si content, the hardness of the films increases from 8.5 GPa with x=0.01 to 17.2 GPa with x=0.43. 

Ämnesord

Natural Sciences  (hsv)
Physical Sciences  (hsv)
Naturvetenskap  (hsv)
Fysik  (hsv)
Inställningar Hjälp

Beståndsinformation saknas

Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Kungliga biblioteket hanterar dina personuppgifter i enlighet med EU:s dataskyddsförordning (2018), GDPR. Läs mer om hur det funkar här.
Så här hanterar KB dina uppgifter vid användning av denna tjänst.

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy