Startsida
Hjälp
Sök i LIBRIS databas

     

 

Sökning: onr:158720 > Ellipsometry in the...

Ellipsometry in the measurement of surfaces and thin films : symposium proceedings, Washington 1963 : symposium held September 5-6, 1963, at the National bureau of standards, Washington, D.C. / ed. by E. Passaglia ...

Passaglia, E. (redaktör/utgivare)
Washington, 1964
Engelska 359 s.
Serie: Miscellaneous publications / National Bureau of Standards, 0096-963X ; 256
  • BokKonferens
Ämnesord
Stäng  

Indexterm och SAB-rubrik

Uccgc(k) Fysik Ytor Gränsytor Tunna Skikt
Ucd.02(k) Molekylfysik Atomfysik Kärnfysik Partikelfysik Instrumentlära Mätteknik

Klassifikation

535.24(061.3) (UDK)
535.51(061.3) (UDK)
530.417 (DDC)
539 (DDC)
535 (DDC)
Uccgc(k) (kssb/6)
Ucd.02(k) (kssb/6)
Uccb(k) (kssb/6)
Inställningar Hjälp

Titeln finns på 3 bibliotek. 

Bibliotek i Stockholmsregionen (1)

Ange som favorit

Bibliotek i östra Sverige (1)

Ange som favorit

Bibliotek i södra Sverige (1)

Ange som favorit
Om LIBRIS
Sekretess
Blogg
Hjälp
Fel i posten?
Kontakt
Teknik och format
Sök utifrån
Sökrutor
Plug-ins
Bookmarklet
Anpassa
Textstorlek
Kontrast
Vyer
LIBRIS söktjänster
SwePub
Sondera
Uppsök

Copyright © LIBRIS - Nationella bibliotekssystem

 
pil uppåt Stäng

Kopiera och spara länken för att återkomma till aktuell vy